Главная » Статьи » Тестирование и измерения

В категории материалов: 2
Показано материалов: 1-2
Страницы:

Сортировать по: Дате · Названию · Рейтингу · Комментариям · Просмотрам

Обзор JTAG-спецификации или спецификации стандартов IEEE 1149, которые определяют тестовую технологию граничного сканирования JTAG.

Тестирование и измерения | Просмотров: 673 | Добавил: RUSI2 | Дата: 24.09.2014 | Комментарии (0)

Отечественная радиоэлектронная промышленность долгое время не имела достаточного доступа к современной технологической базе, поэтому ряд вопросов связанных с технологией производства электронных устройств оказался недостаточно освещен в публикациях.

В частности, "за кадром" разработчиков и изготовителей остаются современные системы тестирования электроники (микросхем, печатных плат в сборе, радиоэлектронных устройств и т.п.).  Настоящая статья дает представление о применении LSI тест-систем в испытаниях электроники и описывают промышленную реализацию одного из таких LSI-тестеров компанией Advantest.

 

Тестирование и измерения | Просмотров: 928 | Добавил: RUSI2 | Дата: 15.09.2014 | Комментарии (0)